靜電電荷如何造成損害（檢測儀相關(guān)）

當(dāng)這些靜電荷與電子設(shè)備接觸時，就會損壞組件。電流隨著電荷沿器件的導(dǎo)電電路移動而流動，并且電荷的通常非常高的電壓水平使集成電路的精密跡線過熱，使它們?nèi)刍踔琳舭l(fā)其中的一部分。當(dāng)通過顯微鏡檢查時，由電引起的損壞- 靜電放電看起來很像散落在組件電路景觀中的微小炸彈坑。

將表中的值進(jìn)行快速比較，列出了檢測儀器件的敏感性水平，這說明了為什么《半導(dǎo)體可靠性新聞》估計大約 60% 的器件故障是由靜電損壞造成的釋放。

可能會發(fā)生具有潛在破壞性的靜電放電：

• 任何時候帶電表面（包括人體）對設(shè)備放電。即使是手指簡單地接觸敏感設(shè)備或組件的引線，也會產(chǎn)生足夠的放電而造成損壞。帶電的導(dǎo)電物體（例如金屬工具或固定裝置）也會發(fā)生類似的放電。

• 當(dāng)敏感設(shè)備上積累的靜電荷從設(shè)備釋放到另一個表面時，例如包裝材料、工作表面、機(jī)器表面或其他設(shè)備。在某些情況下，帶電設(shè)備放電可能是 很具破壞性的。

一個典型的例子是將電子組件安裝到它所運(yùn)行的設(shè)備的連接器或線束中的簡單操作。如果組件帶有靜電荷，當(dāng)它接地時，就會發(fā)生放電。

• 每當(dāng)將敏感設(shè)備移動到現(xiàn)有靜電場的場中時，設(shè)備上可能會感應(yīng)出電荷，從而將電場有效地釋放到設(shè)備上。如果器件在靜電場內(nèi)瞬間接地或從靜電場區(qū)域移開并在其他地方接地，則當(dāng)電荷從器件轉(zhuǎn)移到地時將發(fā)生第二次放電。